Test items检测项目
冷场发射扫描电子显微镜
仪器照片 |
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仪器名称 |
场发射环境扫描电子显微镜 |
仪器型号 |
美国FEI Quanta 400 FEG |
仪器简介 |
Quanta FEG场发射环境扫描电子显微镜综合场发射电镜高分辨和ESEM环境扫描电镜适合样品多样性的优势,可对各种各样的样品(包括导电样品、不导电样品、含水含油样品、加热样品等等)进行高分辨的静态和动态观察和分析。 |
技术参数 |
•MonoCL3+阴极荧光谱仪,波长范围160-930nm •电子束感生电流(EBIC) • STEM探测器 • Apollo 40 SDD能谱仪 • 液氮冷台,温度范围为-185℃- +200℃ • 液氦冷台,温度范围为6K-300K |
仪器功能 |
• 可在高真空、低真空(130Pa)、环境真空(4000Pa)下观察导电和不导电样品,对材料的表面和横截面的微观形貌、成分进 行分析,广泛应用于金属材料、高分子材料、半导体材料、纳米材料等领域; • 配备的Apollo40 SDD能谱无需液氮制冷,可进行快速的点、线、面分布分析,获得能谱的mapping图谱; • 其样品室直径达284 mm,对于直径达四英寸硅片可以直接进行测试,无需对样品进行分割处理; |
检测案例一 (图片) |
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检测案例二 (能谱) |
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样品要求 |
建议提供文献图片或者以前做过的图片,如果没有,检测要求需详细填写。可提供12张图片:即筛选出三个比较好的区域,每个区域提供3-4张不同放大倍数满足测试要求的图片,对于找不到符合测试要求的区域的样品,我们将会多拍一些区域以证明样品的真实情况!寄送样品质量大于20mg。 |